为了达到最高精确度的温度测量，系统设计者通常只有一种选择：铂     电阻   温度探测器（RTDs），例如PT100 或 PT1000。高度线性和可互换的RTD可用于各种精度等级（DIN）标准，如国际电工委员会（IEC）和德国标准化研究所定义的在0°C时误差低至±0.03°C。 但是，使用RTD实现这种精确度并不容易。

为了获得RTD的最高精度，通常需要花费数小时到数天来仔细选择和模拟RTD周围昂贵的精密元件。设计者必须在     电路   板布局上花很大功夫才能避免影响测量的电阻匹配不当现象发生。

尽管设计人员做了一丝不苟的努力，但采集电路很容易增加0.5°C 至1.0°C 的测量误差，从而使RTD本身的固有精度相形见绌。为了达到接近RTD所能提供的精度，唯一的选择是在生产中耗时耗成本地校准每个单元。

为了解决使用RTD时的设计挑战，     TI   最近推出了TMP117系列数字     温度传感器   ，其精度可与Class-AA RTD相媲美，同时大大简化了设计工作。如图1所示，TMP117在-55oC至150oC的整个工作范围内提供+/- 0.1oC的精度，从-20oC到50oC，精度为0.3oC，无需在     制造   过程中进行校准。

图1：IEC 60751 RTD与TMP117的精度等级相比

注意：RTD线表示每个IEC 60751精度等级的误差，不包括影响最终系统级精度的测量误差或校准。

从设计角度来看，使用RTD设计与IC温度     传感器   之间的对比不会更加明显（见图2）。

 对比

图2：典型RTD与TMP117的电路比较

通过将传感器和     模数转换器   （     ADC   ） 结合在单一芯片上，像TMP117这类的数字温度传感器能够简化在RTD设计中大多数困难且耗时的工序，并能通过     I2C   界面提供直观的温度读数。表1显示了两种技术之间所需设计工作的详细比较。

表1：比较RTD和TMP117之间典型的设计考虑因素

对于需要最高精度的应用的铂RTD替代方案，请查看TMP117。它的集成提供了前所未有的简单性，同时还简化了生产过程，降低了生产成本。